PCI-E測試USB測試USB測試

4.USB4.0Sideband信號(hào)測試因?yàn)閁SB4.0需要通過Type-C連接器的SBU1、SBU2等sideband信號(hào)完整復(fù)雜的初始化和協(xié)議控制，所以測試規(guī)范對它們的電氣特性測試做了詳細(xì)的要求。這部分測試比較簡單，使用通用示波器和萬用表就可以很方便的完成，感興趣的同學(xué)可以直接參考測試規(guī)范。

小結(jié)：是德科技提供了完整的 USB4.0 電氣測試方案，  包括發(fā)送端測試、 接收端測試、回波損耗測試 Sideband 信號(hào)測試。并且，這些方案 已經(jīng)在實(shí)際中得到驗(yàn)證，  表現(xiàn)優(yōu)異。 USB2.0外設(shè)的高速信號(hào)質(zhì)量測試項(xiàng)目的連接；PCI-E測試USB測試USB測試

需要 指出的是在 TP3(Case 2) 遠(yuǎn)端 校準(zhǔn)時(shí)，   除了 Type-C cable 外， 還 需要 ISI boards，   利用 網(wǎng) 絡(luò) 分 析 實(shí)測，   保 證 ISI boards+Type-C cable+Test fixture 整個(gè)測試鏈路的插入損耗滿足 18-19 dB at 5GHz for Gen 2 (10Gbps) 和 16-17 dB at 10GHz for Gen 3 (20Gbps) 的要求。

同時(shí)，  是德科技提供 N5991U40A USB4.0 全自動(dòng)化接收端軟件，  幫 助客戶非常方便的控制示波器對誤碼儀輸出的加壓信號(hào)進(jìn)行校 準(zhǔn)，  通過 USB4.0 Microcontroller 和 USB4ETT 軟件讀取誤碼測試時(shí)誤 碼儀和被測芯片 Preset 和鏈路協(xié)商過程、以及的誤碼測試結(jié) 果，  生成完整的測試報(bào)告。 PCI-E測試USB測試USB測試發(fā)送信號(hào)的測試USB需要的要求；

3.USB4.0回波損耗測試高速串行信號(hào)傳輸速率越高，信號(hào)的射頻微波化趨勢就越明顯，20Gb/s的數(shù)字信號(hào)的Nyquist頻率已經(jīng)高達(dá)10GHz。這種情況下，測試信號(hào)的時(shí)域指標(biāo)已經(jīng)越來越難以保證信號(hào)的質(zhì)量；因此從Thunderbolt3.0開始，發(fā)送端在正常傳輸數(shù)據(jù)時(shí)的回波損耗測試也變成了一個(gè)必須的測試項(xiàng)目，USB4.0當(dāng)然也不例外。USB4.0定義了發(fā)送端和接收端差分回波損耗及共?；夭〒p耗四個(gè)測試項(xiàng)目。

USB4.0 回波損耗測試的實(shí)際連接和結(jié)果示意圖。它需要 一臺(tái)至少 20GHz 帶寬、帶 TDR 選件的網(wǎng)絡(luò)分析儀，  同時(shí)被測體通 過 USB4ETT 軟件和 USB4.0 Microcontroller 產(chǎn)生 PRBS31 的測試碼型。 是德科技提供詳細(xì)的操作步驟和網(wǎng)絡(luò)分析儀設(shè)定文件 (State File) 供大家參考。

USB測試

基本介紹隨著USB技術(shù)在消費(fèi)電子產(chǎn)品和其他電子產(chǎn)品上的快速發(fā)展和普及應(yīng)用，USB性能規(guī)范和符合性測試變得越來越重要。如果生產(chǎn)商希望在產(chǎn)品上粘貼符合USB-IF標(biāo)準(zhǔn)的USB認(rèn)證標(biāo)志，任何附有USB端口的產(chǎn)品，例如電腦、手機(jī)、音視頻產(chǎn)品以及其他電子設(shè)備等都必須進(jìn)行USB測試。北測是獲得認(rèn)可的測試實(shí)驗(yàn)室，完全符合USB-IF的標(biāo)準(zhǔn)，可幫助制造商獲得USB認(rèn)證，并在產(chǎn)品上粘貼USB標(biāo)志。測試服務(wù)USB測試服務(wù)包括：高速、全速、低速USB設(shè)備測試·外部裝置·主機(jī)內(nèi)插卡·集線器·系統(tǒng)·集成電路·電線組件·連接器·USBOTG USB3.0一致性測試數(shù)據(jù)；

USB3.x的測試碼型和LFPS信號(hào)在測試過程中，根據(jù)不同的測試項(xiàng)目，被測件需要能夠發(fā)出不同的測試碼型，如表3.2所示。比如CPO和CP9是隨機(jī)的碼流，在眼圖和總體抖動(dòng)(TJ)的測試項(xiàng)目中就需要被測件發(fā)出這樣的碼型；而CP1和CP10是類似時(shí)鐘一樣跳變的數(shù)據(jù)碼流，可以用于擴(kuò)頻時(shí)鐘SSC以及隨機(jī)抖動(dòng)(RJ)的測試。還有一些碼型可以用于預(yù)加重等項(xiàng)目的測試，供用戶調(diào)試使用。

根據(jù)USB3 . 1 的LTSSM(Link Training and Status State Machine)狀態(tài)機(jī)的定義( 圖3. 8),  在通過上下拉電阻檢測到對端的50Ω負(fù)載端接后，被測件就進(jìn)入Polling(協(xié)商)階段。在這 個(gè)階段，被測件會(huì)先發(fā)出Polling.LFPS的碼型和對端協(xié)商(LFPS的測試，后面我們還會(huì)提 到),如果對端有正?；貞?yīng)，就可以繼續(xù)協(xié)商直至進(jìn)入U(xiǎn)o的正常工作狀態(tài)；但如果對端沒 有回應(yīng)(比如連接示波器做測試時(shí)),則被測件內(nèi)部的狀態(tài)機(jī)就會(huì)超時(shí)并進(jìn)入一致性測試模 式(Compliance Mode ),在這種模式下被測件可以發(fā)出不同的測試碼型以進(jìn)行信號(hào)質(zhì)量的 一致性測試 USB4電性一致性測試；電氣性能測試USB測試檢查

USB3.0電纜、連接器測試；PCI-E測試USB測試USB測試

USB4.0的接收容限測試

對于USB4.0的接收端來說，主要進(jìn)行的是接收容限測試，用于驗(yàn)證接收端在壓力信號(hào)(StressedElectricalSignal)下的表現(xiàn)。具體的測試項(xiàng)目包括壓力信號(hào)的誤碼率測試(BER)、突發(fā)誤碼率測試(MultiError-Burst)、頻率偏差(FrequencyVariations)、回波損耗(ReturnLoss)等。

誤碼率的測試要在壓力信號(hào)下進(jìn)行，因此需要先用高速誤碼儀的碼型發(fā)生器產(chǎn)生帶預(yù)加重、正弦抖動(dòng)(PJ)、隨機(jī)抖動(dòng)(RJ)、擴(kuò)頻時(shí)鐘(SSC)、共模噪聲(ACCM)的信號(hào)，并用高帶寬示波器進(jìn)行壓力信號(hào)校準(zhǔn)。校準(zhǔn)完成后再把壓力信號(hào)注入被測件，在不同的正弦抖動(dòng)幅度和頻率下進(jìn)行誤碼率測試。在USB4.0的接收容限測試中，需要做兩種場景的測試：Casel的測試中沒有插入U(xiǎn)SB電纜，模擬鏈路損耗小的情況；Case2的測試中要插入2m PCI-E測試USB測試USB測試