手動探針臺應用領域:Failure analysis集成電路失效分析;Wafer level reliability晶元可靠性認證;Device characterization元器件特性量測;Process modeling塑性過程測試(材料特性分析);IC Process monitoring制成監(jiān)控;Package part probing IC封裝階段打線品質測試;Flat panel probing液晶面板的特性測試;PC board probing PC主板的電性測試;ESD&TDR testing ESD和TDR測試;Microwave probing微波量測(高頻);Solar太陽能領域檢測分析;LED、OLED、LCD領域檢測分析。平面電機應使用在環(huán)境溫度15~25℃,相對濕度小于50%的環(huán)境中。北京控溫探針臺加工廠家
探針測試臺x-y工作臺的分類:縱觀國內外的自動探針測試臺在功能及組成上大同小異,即主要由x-y向工作臺,可編程承片臺、探卡/探卡支架、打點器、探邊器、操作手柄等組成,并配有與測試儀(TESTER)相連的通訊接口。但如果按其x-y工作臺結構的不同可為兩大類,即:平面電機型x-y工作臺(又叫磁性氣浮工作臺)自動探針測試臺和以采用精密滾珠絲杠副和直線導軌結構的x-y工作臺型自動探針測試臺。由于x-y工作臺的結構差別很大,所以其使用維護保養(yǎng)不可一概而論,應區(qū)別對待。江蘇高溫探針臺供應適用于對芯片進行科研分析,抽查測試等用途。
全自動探針臺相比手動探針臺和自動探針臺兩種添加了晶圓材料處理搬運單元(MHU)和模式識別(自動對準)。負責晶圓的輸送與定位,使晶圓上的晶粒依次與探針接觸并逐個測試??梢?4小時連續(xù)工作,通常用于芯片量產或有一些特殊要求如處理薄晶圓、封裝基板等。全自動探針臺價格也是遠比手動/半自動探針臺要昂貴。軟件為探針臺系統(tǒng)增加了很多功能,使用者可以通過軟件或機械操縱桿以各種速度向任何方向移動載物臺,程序可以設置映射以匹配器件,可以選擇要檢測的器件。
手動探針臺的使用方式:1.將樣品載入真空卡盤,開啟真空閥門控制開關,使樣品安全且牢固地吸附在卡盤上。2.使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動卡盤平臺,在顯微鏡低倍物鏡聚焦下看清楚樣品。3.使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動卡盤平臺將樣品待測試點移動至顯微鏡下。4.顯微鏡切換為高倍率物鏡,在大倍率下找到待測點,再微調顯微鏡聚焦和樣品x-y,將影像調節(jié)清晰,帶測點在顯微鏡視場中心。5.確保針尖和被測點接觸良好后,則可以通過連接的測試設備開始測試。常見故障的排除當您使用本儀器時,可能會碰到一些問題,下表列舉了常見的故障及解決方法。手動探針臺技術參數。探針臺是一種輔助執(zhí)行機構。
高性能密閉微暗室有效屏蔽:腔體采用導電的處理工藝,確保了各零件之間的導通狀態(tài)從而達到全屏蔽的效果,降低系統(tǒng)噪聲,有效屏蔽外界干擾,并提供低漏電流保護,為微弱電信號測試提供了合理的測試環(huán)境;同時也注意零件配合以及裝配的同時,保證內部的密封性。對于一些特殊的器件/晶圓需要在高低溫的情況進行環(huán)境的模擬測試,有效地避免了空氣中的水分在樣品上結露或者結霜的存在,通過氣流的特性,填充滿密封腔體內,使腔體里內的氣體露的點進行降低直至到一定的點。主要工作是檢測芯片設計的功能是否能夠達到芯片的技術指標。重慶手動高低溫探針臺報價
手動探針臺:普遍應用于,科研單位研發(fā)測試、院校教學操作、企業(yè)實驗室芯片失效分析等領域。北京控溫探針臺加工廠家
自動化探針臺搭配測試機能夠對出廠晶圓片的電氣參數、光學參數進行測試,根據測試結果評定上一道工序的工藝質量,并指導下一道工序。從全球市場看,半導體探針臺設備行業(yè)集中度較高,目前主要由國外廠商主導,行業(yè)呈現(xiàn)較高壟斷的競爭格局。鑒于自動化探針臺是光、機、電高度一體化的產品,國內在這一方向研究幾乎為零,市場主要被一些國外的大公司壟斷。2017年投產X系列半自動探針臺并成功推向市場,成功填補國內該研發(fā)生產領域的空白。北京控溫探針臺加工廠家