ICT測(cè)試治具是一種專門對(duì)產(chǎn)品的功能、功率校準(zhǔn)、壽命、性能等進(jìn)行測(cè)試、試驗(yàn)的一種治具。其類型有以下三種：一、老化ICT測(cè)試治具：用于對(duì)產(chǎn)品或半成品進(jìn)行抗疲勞的試驗(yàn)，即進(jìn)行破壞性試驗(yàn)，判斷產(chǎn)品的使用壽命是否符合規(guī)定的期限的一種治具。二、功能ICT測(cè)試治具：是一種用來(lái)測(cè)試半成品/成品或生產(chǎn)環(huán)節(jié)中的某一個(gè)工序，以此來(lái)判斷被測(cè)對(duì)象是否達(dá)到了初始設(shè)計(jì)者目的的機(jī)械輔助設(shè)備。三、鉆孔ICT測(cè)試治具：鉆孔ICT測(cè)試治具是一種可借由移動(dòng)模具以導(dǎo)引麻花鉆孔設(shè)備或其他鉆孔裝置到每個(gè)洞的準(zhǔn)確中心位置，并可在多個(gè)可互換零件上加速反復(fù)在洞孔中心定位的治具類型，在鐵工實(shí)務(wù)上，典型的作法是在鉆孔治具上的每個(gè)孔留有堅(jiān)硬套環(huán)以避...

ICT測(cè)試治具的產(chǎn)生是為了提高生產(chǎn)力、重復(fù)特定動(dòng)作、或使工作更加精確。治具的設(shè)計(jì)基本上是建立于邏輯，類似的治具可能會(huì)因?yàn)槭褂糜诓煌臅r(shí)間和地點(diǎn)而分別產(chǎn)生。測(cè)試治具可以分為幾個(gè)種類，包括ICT測(cè)試治具，功能測(cè)試治具，F(xiàn)CT測(cè)試治具等幾個(gè)類別。ICT測(cè)試治具有單面雙面之分，通用天板方便交換機(jī)種，使用可調(diào)培林座，容易保養(yǎng)，使用壓克力&電木&FR-4材質(zhì)(或指定)，直接gerber文件處理生成鉆孔文件，保證鉆孔精度。測(cè)試程式自動(dòng)生成，避免手工輸入出錯(cuò)之可能適用于tri、jet、newsys、okano、tescon、takaya、gwposhell、src、concord,PTI816等ICT機(jī)型。兩...

功能測(cè)試治具和ICT測(cè)試治具的區(qū)別，應(yīng)用場(chǎng)景不同，功能測(cè)試治具主要應(yīng)用于模擬、數(shù)字、存儲(chǔ)器、RF和電源電路等的測(cè)試，主要包括電壓、電流、功率、功率因素、頻率、占空比、亮度與顏色、字符識(shí)別、聲音識(shí)別、溫度測(cè)量、壓力測(cè)量、運(yùn)動(dòng)控制、FLASH和EEPROM燒錄等測(cè)試項(xiàng)目。而ICT測(cè)試治具它主要用于檢查在線的單個(gè)元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開(kāi)、短路情況，成批量的板子，附加值高且定型的板子，以及模擬器件功能和數(shù)字器件邏輯功能等的測(cè)試。制作原理不同，功能測(cè)試治具的主要考慮工件的定位、緊固以及如何實(shí)現(xiàn)功能測(cè)試；而ICT測(cè)試治具根據(jù)電路板的機(jī)械尺寸圖，把電路板上面的DIP腳，測(cè)試點(diǎn)的位置打孔，然后插針，把電路板中...

ICT測(cè)試不良及常見(jiàn)故障的分析方法：A、如果測(cè)試值與標(biāo)準(zhǔn)值比較只是發(fā)生了較大的偏移，而不是量測(cè)值為無(wú)窮大的情況，則可能存在的原因有以下幾個(gè)方面：（1）錯(cuò)件；（2）有內(nèi)阻的被動(dòng)組件的影響；（3）測(cè)試點(diǎn)有問(wèn)題。B、如果量測(cè)值與標(biāo)準(zhǔn)值比較只是發(fā)生了很小的偏移，這種情況多為零件誤差引起的，但是為了準(zhǔn)確起見(jiàn)，較好是通過(guò)比較的方法看是否真的是由于誤差的原因而造成的量測(cè)值偏移，如果由于誤差的原因造成的話，需由工程人員作相應(yīng)的程序調(diào)整。ICT測(cè)試治具是對(duì)在線元器件性能、原理及電氣連接進(jìn)行測(cè)試檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備。南通ICT測(cè)試治具價(jià)格ICT測(cè)試治具的優(yōu)點(diǎn)：測(cè)試治具能夠準(zhǔn)確的定位出產(chǎn)品的好...

ICT測(cè)試治具即IntegratedCircuitTester集成電路測(cè)試儀器治具的縮寫，就是在線檢測(cè)、測(cè)試治具。是對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備。ICT測(cè)試治具有單面雙面之分，通用天板方便交換機(jī)種，使用可調(diào)培林座，容易保養(yǎng)，使用壓克力&電木&FR-4材質(zhì)（或指定），直接gerber文件處理生成鉆孔文件，保證鉆孔精度。測(cè)試程式自動(dòng)生成，避免手工輸入出錯(cuò)之可能適用于tri、jet、newsys、okano、tescon、takaya、gwposhell、src、concord,PTI816等ICT機(jī)型。兩被測(cè)點(diǎn)或被測(cè)點(diǎn)與預(yù)鉆孔之中心距不得小...

ICT技術(shù)參數(shù)：1)較大測(cè)試點(diǎn)數(shù)表示設(shè)備較多能設(shè)多少個(gè)測(cè)試點(diǎn)。一般電阻、電容等元件只有兩條引腳，每個(gè)元件只用兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)就夠了。ICT有多個(gè)引腳，每條引腳都需要設(shè)一個(gè)測(cè)試點(diǎn)。元件越多，電路板越復(fù)雜，需要測(cè)試點(diǎn)越多。因此，測(cè)試儀需要足夠多的測(cè)試點(diǎn)數(shù)。目前ICT的較大測(cè)試點(diǎn)數(shù)可達(dá)2048點(diǎn)，已足夠用了。2)可測(cè)試的元器件種類早期的ICT只可以測(cè)試開(kāi)、短路，電阻、電容、電感、二極管等較少種類的元器件，經(jīng)不斷改進(jìn)，現(xiàn)在ICT已可以測(cè)試三極管、穩(wěn)壓管、光耦、IC等多種元器件。ICT治具的優(yōu)點(diǎn)：ICT是一次性測(cè)試整塊線路板，甚至可以同時(shí)測(cè)試多塊并聯(lián)板，而只需一個(gè)操作員工。連云港壓床式治具直銷廠家應(yīng)用擴(kuò)展：除...

ICT測(cè)試治具檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：1.磁盤中程式是否無(wú)漏KeyInBOM值及H,LPIN是否符合程式制做要求；2.針床上是否貼上治具流程表；3.TJ鉆孔位置,方向是否準(zhǔn)確；4.天板/中板/面板是否貼機(jī)種標(biāo)簽；5.上針板條形碼孔是否銑長(zhǎng)46mm寬28mm；6.DIP零件角銑深,外框加大至孔徑外緣；7.DIP大電容搬斜角度,是否銑去(板邊)(待測(cè)物)2mm空間；8.牛角是否鎖緊；9.正看connector缺口朝上,由下往上,由左往至右排列；10.電源線是否焊正確；11.線頭,線渣是否整潔；12.繞線圈數(shù)是否標(biāo)準(zhǔn)；13.TJ放大器是否正確(不能磨小)；14.TJ聯(lián)機(jī)檢查是否OK；15.TJ方向正看是否左中心點(diǎn)...

ict檢測(cè)哪家好？ict檢測(cè)自動(dòng)在線測(cè)試儀，是現(xiàn)代電子企業(yè)必備的測(cè)試設(shè)備，ict檢測(cè)使用范圍廣，測(cè)量準(zhǔn)確性高，對(duì)檢測(cè)出的問(wèn)題指示明確，即使電子技術(shù)水準(zhǔn)一般的工人處理有問(wèn)題的也非常容易。使用ict檢測(cè)能極大地提高生產(chǎn)效率，降低生產(chǎn)成本。功能測(cè)試依據(jù)控制模式的不同，可以分為手動(dòng)控制功能測(cè)試、半自動(dòng)控制功能測(cè)試、全自動(dòng)控制功能測(cè)試。它主要用于檢查在線的單個(gè)元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開(kāi)、短路情況，具有操作簡(jiǎn)單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)，ICT測(cè)試治具可進(jìn)行模擬器件功能和數(shù)字器件邏輯功能測(cè)試，故障覆蓋率高，對(duì)每種單板需制作專屬的針床，這個(gè)針床在工業(yè)生產(chǎn)上就叫它ICT測(cè)試治具。ICT測(cè)驗(yàn)治具中所選用的板材...

ICT檢測(cè)電容是否插反：ICT叫做自動(dòng)在線測(cè)試儀，是PCBA(Printed-CircuitBoardAssembly)現(xiàn)代的生產(chǎn)車間必備的測(cè)試設(shè)備，ICT可以檢測(cè)線路的開(kāi)路、短路、可以檢測(cè)到各種電子元件是否正確貼裝。ICT的測(cè)量準(zhǔn)確性很高，可以有效的提升線路板生產(chǎn)線的生產(chǎn)效率。要使用ICT進(jìn)行檢測(cè)，PCB上需要在每一個(gè)需要檢測(cè)的網(wǎng)絡(luò)上預(yù)留測(cè)試點(diǎn)，在測(cè)試過(guò)程中，測(cè)試針會(huì)連接到PCB的測(cè)試點(diǎn)上。ICT就像一個(gè)“萬(wàn)用表”，可以對(duì)線路板上的線路和元件進(jìn)行檢測(cè)。圖像識(shí)別檢測(cè)電容是否插反：線路板過(guò)爐出來(lái)后，傳送到檢測(cè)工位，高清攝像頭對(duì)線路板進(jìn)行拍照，然后與正確的標(biāo)準(zhǔn)樣板相片進(jìn)行比對(duì)，如果電容插反或者插錯(cuò)...

功能測(cè)試治具和ICT測(cè)試治具的區(qū)別，應(yīng)用場(chǎng)景不同，功能測(cè)試治具主要應(yīng)用于模擬、數(shù)字、存儲(chǔ)器、RF和電源電路等的測(cè)試，主要包括電壓、電流、功率、功率因素、頻率、占空比、亮度與顏色、字符識(shí)別、聲音識(shí)別、溫度測(cè)量、壓力測(cè)量、運(yùn)動(dòng)控制、FLASH和EEPROM燒錄等測(cè)試項(xiàng)目。而ICT測(cè)試治具它主要用于檢查在線的單個(gè)元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開(kāi)、短路情況，成批量的板子，附加值高且定型的板子，以及模擬器件功能和數(shù)字器件邏輯功能等的測(cè)試。制作原理不同，功能測(cè)試治具的主要考慮工件的定位、緊固以及如何實(shí)現(xiàn)功能測(cè)試；而ICT測(cè)試治具根據(jù)電路板的機(jī)械尺寸圖，把電路板上面的DIP腳，測(cè)試點(diǎn)的位置打孔，然后插針，把電路板中...

常見(jiàn)的測(cè)試治具有哪些？1、ICT測(cè)試治具：ICT測(cè)試治具是對(duì)在線元器件的性能、原理及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備。ICT測(cè)試治具是生產(chǎn)中初道測(cè)試工序，能及時(shí)反應(yīng)生產(chǎn)制造狀況，ICT測(cè)試治具具有操作簡(jiǎn)單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)，同時(shí)維修方便從而為客戶提高生產(chǎn)效率和減少維修成本。2、老化測(cè)試治具：用于對(duì)產(chǎn)品或半成品進(jìn)行抗疲勞的試驗(yàn)，即進(jìn)行破壞性試驗(yàn)，判斷產(chǎn)品的使用壽命是否符合規(guī)定的期限的一種治具，稱作老化測(cè)試治具。ICT測(cè)試治具能夠先期找出制程不良所在如線路短路、斷路、組件漏件、反向、錯(cuò)件、空焊等不良問(wèn)題。連云港壓床式治具報(bào)價(jià)ICT治具在生產(chǎn)線上的優(yōu)點(diǎn)：1...

ICT在線測(cè)試儀測(cè)試是怎樣讀取時(shí)間的?1.往單元A寫入數(shù)據(jù)"0"，往單元B寫入數(shù)據(jù)"1"，堅(jiān)持READ為使能狀態(tài)并讀取單元A值。2.地址轉(zhuǎn)換到單元B，實(shí)質(zhì)上就是ICT在線測(cè)試儀丈量?jī)?nèi)存數(shù)據(jù)的堅(jiān)持時(shí)間，轉(zhuǎn)換時(shí)間就是從地址轉(zhuǎn)換開(kāi)始到數(shù)據(jù)變換之間的時(shí)間。3.建立時(shí)間--輸入數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換必需提前鎖定輸入時(shí)鐘的時(shí)間。4.堅(jiān)持時(shí)間--鎖定輸入時(shí)鐘之后輸入數(shù)據(jù)必需堅(jiān)持的時(shí)間。5.暫停時(shí)間--內(nèi)存單元能保持它狀態(tài)的時(shí)間。6.刷新時(shí)間--刷新內(nèi)存的很大允許時(shí)間。7.寫入恢復(fù)時(shí)間--寫操作之后的能讀取某一內(nèi)存單元所必須等待的時(shí)間。ict檢測(cè)自動(dòng)在線測(cè)試儀，是現(xiàn)代電子企業(yè)必備的測(cè)試設(shè)備。無(wú)錫ict在線測(cè)試儀器哪家好IC...

ICT測(cè)試不良及常見(jiàn)故障的分析方法：A、如果測(cè)試值與標(biāo)準(zhǔn)值比較只是發(fā)生了較大的偏移，而不是量測(cè)值為無(wú)窮大的情況，則可能存在的原因有以下幾個(gè)方面：（1）錯(cuò)件；（2）有內(nèi)阻的被動(dòng)組件的影響；（3）測(cè)試點(diǎn)有問(wèn)題。B、如果量測(cè)值與標(biāo)準(zhǔn)值比較只是發(fā)生了很小的偏移，這種情況多為零件誤差引起的，但是為了準(zhǔn)確起見(jiàn)，較好是通過(guò)比較的方法看是否真的是由于誤差的原因而造成的量測(cè)值偏移，如果由于誤差的原因造成的話，需由工程人員作相應(yīng)的程序調(diào)整。ict設(shè)備的功能有能夠?qū)⑸鲜龉收匣虿涣夹畔⒁源蛴』驁?bào)表的形式提供給維修人員。南京在線ICT儀器品牌ICT測(cè)試點(diǎn)的要求：1.測(cè)試點(diǎn)的焊盤大小至少要有28mil，較好在35mil以...

ICT測(cè)試原理：1)電感測(cè)試：電感的測(cè)試方法和電容的測(cè)試類似，只用交流信號(hào)測(cè)試。2)二極管測(cè)試：二極管正向測(cè)試時(shí)，加一正向電流在二極管上，二極管的正向壓降為0.7V(硅材料管)，加一反向電流在二極管上，二極管壓降會(huì)很大。3)三極管測(cè)試：三極管分三步測(cè)試：先測(cè)試bc極和be極之間的正向壓降，這和二極管的測(cè)試方法相同。再測(cè)試三極管的放大作用：在be極加一基極電流，測(cè)試ce極之間的電壓。例如：b、e極加1mA電流時(shí)，c、e之間的電壓由原來(lái)2V降到0.5V，則三極管處于正常的放大工作狀態(tài)。ICT測(cè)試治具根據(jù)電路板的機(jī)械尺寸圖，把電路板上面的DIP腳，測(cè)試點(diǎn)的位置打孔。鄭州ICT測(cè)試治具多少錢ICT測(cè)試...

ICT測(cè)試治具通用功能，全檢出組裝電路板上零件：電阻、電容、電感、電晶體、FETLED.ICT能夠在短短的數(shù)秒鐘內(nèi)對(duì)普通二極體、穩(wěn)壓二極體、光藕器、IC等零件，是否在設(shè)計(jì)的規(guī)格內(nèi)運(yùn)作?；仞伒街瞥痰母纳?。ICT能夠先期找出制程不良所在如線路短路、斷路、組件漏件、反向、錯(cuò)件、空焊等不良問(wèn)題。包括故障位置、零件規(guī)范值、測(cè)試值，ICT能夠?qū)⑸鲜龉收匣虿涣假Y訊以印表機(jī)印出測(cè)試結(jié)果。以供維修人員參考?？梢杂行Ы档腿藛T對(duì)產(chǎn)品技術(shù)依賴度，不需對(duì)產(chǎn)品線路了解，照樣有維修能力。生產(chǎn)管理人員加以分析，能夠?qū)y(cè)試不良資訊統(tǒng)計(jì)?？梢哉页龈鞣N不良的發(fā)生原因，包括人為的因素在內(nèi)，使之各個(gè)解決、完善、指正，藉以提升電路板制造...

關(guān)于PCBA制作ICT治具的注意事項(xiàng)，附A、測(cè)試點(diǎn)位置考慮順序（每一銅箔不論形狀如，至少需要一個(gè)可測(cè)試點(diǎn)）：1、ACI插件零件腳優(yōu)先考慮為測(cè)試點(diǎn)。2、銅箔露銅部份(測(cè)試PAD)，較好能上錫。3、立式零件插件腳。4、ThroughHole不可有Mask。附B、測(cè)試點(diǎn)直徑：1、1mm以上，以一般探針可達(dá)到較佳測(cè)試效果。2、1mm以下，則須用較精密探針增加制造成本。3、點(diǎn)與點(diǎn)間的間距較好大于2mm(中心點(diǎn)對(duì)中心點(diǎn))。附C、雙面PCB的要求（以能做成單面測(cè)試為考慮重點(diǎn)）：1、SMD面走線較少須有1throughhole貫穿至dip面作為測(cè)試點(diǎn)，由dip面進(jìn)行測(cè)試。2、若throughhole須mask...

測(cè)試治具的使用注意：當(dāng)治具出現(xiàn)損壞無(wú)法修復(fù)使用和客戶變更不再使用的，可申請(qǐng)報(bào)廢重新制作。測(cè)試治具制作好后存放治具制作房，且放置在治具的鐵架上，并作好型號(hào)標(biāo)識(shí)。治具領(lǐng)用由電測(cè)房負(fù)責(zé)人登記領(lǐng)用，用完后歸還于治具房并做好交接。當(dāng)治具出現(xiàn)斷針和老化時(shí)可換針維護(hù)繼續(xù)使用。測(cè)試治具屬于治具下面的一個(gè)類別，專門對(duì)產(chǎn)品的功能、功率校準(zhǔn)、壽命、性能等進(jìn)行測(cè)試、試驗(yàn)的一種治具。因其主要在生產(chǎn)線上用于產(chǎn)品的各項(xiàng)指標(biāo)的測(cè)試，所以叫測(cè)試治具。對(duì)每種單板需制作專屬的針床，這個(gè)針床在工業(yè)生產(chǎn)上就叫它ICT測(cè)試治具。沈陽(yáng)ICT治具供應(yīng)商關(guān)于PCBA制作ICT治具的注意事項(xiàng)，一、測(cè)試點(diǎn)的選取:1、盡量避免治具雙面下針，較好將被...

ICT測(cè)試治具的制作方法：在印刷電路板的生產(chǎn)制造過(guò)程中，多采用ICT(InCircuitTester)測(cè)試儀，通過(guò)相匹配的測(cè)試治具，在線檢測(cè)電路板是否合格，測(cè)試完成后還需對(duì)相應(yīng)的電路板進(jìn)行標(biāo)記以區(qū)分良品和不良品。目前，對(duì)電路板進(jìn)行標(biāo)記作業(yè)較好的方式是采用硬刻技術(shù)，該技術(shù)的具體原理是：在ICT測(cè)試治具上設(shè)置測(cè)試機(jī)構(gòu)和蓋章裝置，所述測(cè)試機(jī)構(gòu)連接到ICT測(cè)試儀，在對(duì)電路板進(jìn)行測(cè)試后，蓋章裝置利用雕刻工具在電路板表面雕刻相應(yīng)標(biāo)識(shí)以達(dá)到區(qū)分良品和不良品的目的。ICT電感測(cè)試：電感的測(cè)試方法和電容的測(cè)試類似，只用交流信號(hào)測(cè)試。南京壓床式治具生產(chǎn)廠家ICT治具相對(duì)來(lái)說(shuō)有哪些優(yōu)勢(shì)?1、測(cè)試時(shí)間短：一般一片組裝...

ICT在線測(cè)試儀測(cè)試是怎樣讀取時(shí)間的?1.往單元A寫入數(shù)據(jù)"0"，往單元B寫入數(shù)據(jù)"1"，堅(jiān)持READ為使能狀態(tài)并讀取單元A值。2.地址轉(zhuǎn)換到單元B，實(shí)質(zhì)上就是ICT在線測(cè)試儀丈量?jī)?nèi)存數(shù)據(jù)的堅(jiān)持時(shí)間，轉(zhuǎn)換時(shí)間就是從地址轉(zhuǎn)換開(kāi)始到數(shù)據(jù)變換之間的時(shí)間。3.建立時(shí)間--輸入數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換必需提前鎖定輸入時(shí)鐘的時(shí)間。4.堅(jiān)持時(shí)間--鎖定輸入時(shí)鐘之后輸入數(shù)據(jù)必需堅(jiān)持的時(shí)間。5.暫停時(shí)間--內(nèi)存單元能保持它狀態(tài)的時(shí)間。6.刷新時(shí)間--刷新內(nèi)存的很大允許時(shí)間。7.寫入恢復(fù)時(shí)間--寫操作之后的能讀取某一內(nèi)存單元所必須等待的時(shí)間。使用ict檢測(cè)能極大地提高生產(chǎn)效率，降低生產(chǎn)成本。重慶ICT治具供應(yīng)商ICT測(cè)試不良及常...

功能測(cè)試治具和ICT測(cè)試治具的區(qū)別，應(yīng)用場(chǎng)景不同，功能測(cè)試治具主要應(yīng)用于模擬、數(shù)字、存儲(chǔ)器、RF和電源電路等的測(cè)試，主要包括電壓、電流、功率、功率因素、頻率、占空比、亮度與顏色、字符識(shí)別、聲音識(shí)別、溫度測(cè)量、壓力測(cè)量、運(yùn)動(dòng)控制、FLASH和EEPROM燒錄等測(cè)試項(xiàng)目。而ICT測(cè)試治具它主要用于檢查在線的單個(gè)元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開(kāi)、短路情況，成批量的板子，附加值高且定型的板子，以及模擬器件功能和數(shù)字器件邏輯功能等的測(cè)試。制作原理不同，功能測(cè)試治具的主要考慮工件的定位、緊固以及如何實(shí)現(xiàn)功能測(cè)試；而ICT測(cè)試治具根據(jù)電路板的機(jī)械尺寸圖，把電路板上面的DIP腳，測(cè)試點(diǎn)的位置打孔，然后插針，把電路板中...

導(dǎo)致ICT測(cè)試冶具測(cè)試不良的原因分析：IC空焊不良（以TestJet測(cè)試）測(cè)試值偏小，可能原因：1）IC的此腳空焊；2）測(cè)試針接觸不良；3）從測(cè)試點(diǎn)至IC腳之間Open。4）IC此腳的內(nèi)部不良（可能性極少）；測(cè)試值偏大，可能原因：1）有短路現(xiàn)象；2）IC此腳的內(nèi)部不良（可能性極少）。4．元器件不良，測(cè)試值偏差超差比較小，則可能原因：1）器件本身的偏差就這么大；2）ICT測(cè)試冶具測(cè)試針的接觸電阻較大；3）錯(cuò)件、焊接不良、反裝。測(cè)試值偏差超差比較大，則可能原因：1）器件壞掉；2）測(cè)試針壞掉（與該針相連的器件均超差比較大）3）測(cè)試點(diǎn)上有松香等絕緣物品；4）PCB上銅箔斷裂，或ViaHole與銅箔之間...

ICT的測(cè)量總誤差由以下三項(xiàng)構(gòu)成：1，機(jī)器本身的測(cè)量誤差；2，通道及接觸誤差；3，被測(cè)對(duì)象的誤差。根據(jù)在工程實(shí)踐中的經(jīng)驗(yàn)，對(duì)于性能良好的ICT，且針床制作及保養(yǎng)良好的條件下，ICT的測(cè)試容許誤差的上下限可以設(shè)定為：1，精密電阻（1%的標(biāo)稱誤差）設(shè)為3%至5%；一般電阻（5%的標(biāo)稱誤差）設(shè)為7%至10%；2，精密電容（5%的標(biāo)稱誤差）設(shè)為10%-15%；3，一般電容（20%的標(biāo)稱誤差）設(shè)為25%-30%；電感可在標(biāo)稱誤差的基礎(chǔ)上再加3%至10%；4，二極管一般設(shè)定為30%-50%；5，三極管的飽和壓降一般只須比較上限，實(shí)際上由標(biāo)準(zhǔn)值決定，上限誤差設(shè)為1%即可。下限可設(shè)為0。因?yàn)?即表示不做比較判...

ICT測(cè)試治具的作用很多使用范圍也很普遍，它早在在工業(yè)時(shí)代前就已被普遍使用。ICT測(cè)試治具對(duì)產(chǎn)品的檢測(cè)有什么作用呢?作用一是品質(zhì)的保障：因ICT是全檢的機(jī)器，所有元件都受到嚴(yán)格控制，很大提升品質(zhì)。作用二是降低生產(chǎn)成本：減少維修人員與目視人員的數(shù)量，降低技術(shù)要求，材料與資源的節(jié)省，很大降低生產(chǎn)成本。作用三是提高企業(yè)形象：產(chǎn)品品質(zhì)的提升，提高企業(yè)形象，業(yè)績(jī)量大增。作用四是效率的提升：ICT它能夠在短短幾秒內(nèi)測(cè)出整塊電路板的好壞，并告知您它壞在哪個(gè)區(qū)域及哪個(gè)零件，快速解決生產(chǎn)制成問(wèn)題，并促使產(chǎn)品產(chǎn)量提升。ICT治具的優(yōu)點(diǎn)：ICT可以準(zhǔn)確檢查，因而質(zhì)量及穩(wěn)定性也很大提高。金華ICT治具生產(chǎn)批發(fā)ICT測(cè)...

制作ICT測(cè)試治具所需提供哪些資料？ICT測(cè)試治具廠制作時(shí)需要的資料：文件方面：客戶需要提供PCB文件或者GERBER文件以及BOM表；ICT測(cè)試治具廠需要把PCB文件或者GERBER文件以及BOM表處理成鉆孔文件與測(cè)試程序；PCB方面：客戶需要提供PCB實(shí)裝板和空板；ICT測(cè)試治具廠需要PCB實(shí)裝板和空板計(jì)算出ICT治具壓棒高度以及是否達(dá)到好拿好放原則；尺寸數(shù)據(jù)：需要測(cè)量客戶以前用的ICT治具的高度，方便客戶使用時(shí)不在調(diào)ICT測(cè)試儀壓床高度。ICT測(cè)試治具廠需要測(cè)量是否達(dá)到客戶以前用的ICT治具的高度，方便客戶使用時(shí)不在調(diào)ICT測(cè)試儀壓床高度；針位數(shù)據(jù)：是否按照線路要求測(cè)試針位是否在對(duì)應(yīng)的位...

ICT測(cè)試治具精密PCB電子元件檢測(cè)中的作用：ICT測(cè)試治具應(yīng)力測(cè)試關(guān)系到把PCB板子固定在ICT測(cè)試治具上并進(jìn)行某項(xiàng)任何務(wù)的FVT（校核測(cè)試）。如果這些ICT測(cè)試治具沒(méi)有設(shè)計(jì)得很好，就很可能對(duì)PCB板產(chǎn)生超過(guò)允許范圍的應(yīng)力。甚至設(shè)計(jì)的很好的夾具也會(huì)因?yàn)闀r(shí)間過(guò)長(zhǎng)在PCB板的內(nèi)部產(chǎn)生很大的應(yīng)力。為了預(yù)先發(fā)現(xiàn)問(wèn)題、避免失誤，你可以對(duì)PCB板做一個(gè)應(yīng)變測(cè)試，把易于產(chǎn)生高壓力的流程中很大應(yīng)力測(cè)量出來(lái)，確定應(yīng)力處于允許范圍內(nèi)。如果測(cè)量得到的應(yīng)力值超過(guò)了電路板的允許應(yīng)力水平的較大值，你可以重新制造或者設(shè)計(jì)ICT測(cè)試治具，或者按要求改變流程(一般是調(diào)整頂針，減少測(cè)試時(shí)頂針對(duì)電路板的壓力)，使得應(yīng)變值下降到允...

ICT測(cè)試治具：這樣的結(jié)構(gòu)通過(guò)浮動(dòng)量限制機(jī)構(gòu)對(duì)彈性組件軸向伸縮量的調(diào)節(jié)達(dá)到間接控制雕刻工具的軸向浮動(dòng)的目的，有利于在組裝之前利用浮動(dòng)量限制機(jī)構(gòu)進(jìn)行軸向伸縮量的預(yù)設(shè)置，并且在安裝后以及在ICT測(cè)試治具使用時(shí)也能方便的進(jìn)行相應(yīng)調(diào)整，提高了操作的便利性。具體的，所述浮動(dòng)量限制機(jī)構(gòu)包括一限位件和活動(dòng)套設(shè)于所述一限位件外的二限位件，所述一限位件和所述二限位件之間具有供安裝所述彈性組件的限制空間，其結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，拆裝方便。其中，所述限制空間與所述彈性組件的設(shè)定軸向伸縮量是相對(duì)應(yīng)的。ICT測(cè)試治具對(duì)技術(shù)要求較低，即使對(duì)產(chǎn)品不太解，也可以將測(cè)試不良的消息進(jìn)行統(tǒng)計(jì)。北京ICT儀器報(bào)價(jià)當(dāng)測(cè)試員把ICT治具裝好后,發(fā)現(xiàn)...

ICT技術(shù)：增加ICT測(cè)試點(diǎn)，并定義測(cè)試點(diǎn)載荷（力或者位移）。簡(jiǎn)單的測(cè)試點(diǎn)可以根據(jù)坐標(biāo)系手動(dòng)一個(gè)一個(gè)加入，如果測(cè)試點(diǎn)非常多，可以通過(guò)文件導(dǎo)入的形式輸入。求解并查看結(jié)果，評(píng)估由于過(guò)應(yīng)力導(dǎo)致的風(fēng)險(xiǎn)組件。在分析結(jié)果基礎(chǔ)上，提出改進(jìn)措施。例如，通過(guò)改變測(cè)試點(diǎn)位置，減少測(cè)試點(diǎn)載荷/位移，增加或移動(dòng)板支撐，填充灌封膠等方法在Sherlock軟件里對(duì)電路板設(shè)計(jì)進(jìn)行快速迭代設(shè)計(jì)，以期達(dá)到產(chǎn)品測(cè)試合格的目標(biāo)。軟件分別通過(guò)移動(dòng)高風(fēng)險(xiǎn)區(qū)域的組件U27到合適的位置（10年內(nèi)失效率大于20%）、增加約束條件（10年內(nèi)失效率約為5%，達(dá)到設(shè)計(jì)目標(biāo)）、填充灌封膠（失效率非常低，達(dá)到設(shè)計(jì)目標(biāo)）的方法來(lái)降低產(chǎn)品的失效率。ICT...

ICT設(shè)備測(cè)試的基本知識(shí)：電腦部分就是一臺(tái)普通的PC機(jī)，用其windows操作系統(tǒng)完成與測(cè)試軟件的接口和在顯示器上顯示、打印、統(tǒng)計(jì)等功能。測(cè)試電路分控制電路和開(kāi)關(guān)電路?？刂齐娐肥强刂茖?duì)相應(yīng)的元器件測(cè)試其參數(shù)。電阻測(cè)試其阻值，電容測(cè)試其容量，電感測(cè)其電感量等。開(kāi)關(guān)電路是接通需測(cè)試的相應(yīng)元器件，由繼電器或CMOS半體開(kāi)關(guān)組成。電容插反可以通過(guò)圖像識(shí)別或者ICT檢測(cè)出來(lái)：對(duì)于有極性的電容，比如電解電容、鉭電容等，是不允許插反的，插反上電，很快就會(huì)失效，甚至炸裂。ICT治具關(guān)鍵控制點(diǎn)：具體標(biāo)準(zhǔn)以實(shí)際零件為準(zhǔn)，以測(cè)量值較大為較佳。嘉興在線ICT儀器多少錢ICT治具的設(shè)計(jì)和制作工藝流程，設(shè)計(jì)加工控制要點(diǎn)：...

如何對(duì)ICT測(cè)試儀的測(cè)試針進(jìn)行保養(yǎng)呢？測(cè)試針主要是用于PCB板測(cè)試時(shí)又分為彈簧針和通用針，彈簧針在使用時(shí)，需要根據(jù)所測(cè)試的PCB板的布線情況制作測(cè)試模具，且一般情況下，一個(gè)模具只能測(cè)試一種PCB板；通用針在使用時(shí)，只需有足夠的點(diǎn)數(shù)即可，故現(xiàn)在很多廠家都在使用通用針；彈簧針根據(jù)使用情況又分為PCB板探針、ICT探針、BGA探針，PCB板探針主要用于PCB板測(cè)試，ICT探針主要用于插件后的在線測(cè)試，BGA探針主要用于BGA封裝測(cè)試及芯片測(cè)試。尺寸按照pad間距定義：50mil75mil100mil125mil這是主要常用的尺寸。測(cè)試針頂部外形：尖針開(kāi)花針圓頭針平凸。按照功能分：開(kāi)關(guān)針RF針氣針普通...

它主要檢查在線的單個(gè)元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開(kāi)、短路情況，ict測(cè)試過(guò)的故障板，因故障定位準(zhǔn)，治具，維修方便，可大幅提高生產(chǎn)效率和減少維修成本。ict測(cè)試治具的工作原理：主要是靠測(cè)試探針接觸PCB出來(lái)的測(cè)試點(diǎn)來(lái)檢測(cè)PCB的線路。ict測(cè)試治具通常是生產(chǎn)中一道測(cè)試工序，能及時(shí)反應(yīng)生產(chǎn)制造狀況，F(xiàn)CT功能測(cè)試治具，利于工藝改進(jìn)和提升，因其測(cè)試項(xiàng)目具體，是現(xiàn)代化大生產(chǎn)品質(zhì)保證的重要測(cè)試手段之一。ICT測(cè)試治具能夠?qū)⑸厦嫠墓收匣蛐畔⒁杂”頇C(jī)印出測(cè)試結(jié)果，ict設(shè)備的功能有能夠前期找出制程不良所在。重慶ICT治具品牌導(dǎo)致ICT測(cè)試冶具測(cè)試不良的原因分析：開(kāi)路不良（常由探針接觸不良所致），開(kāi)路不良只針對(duì)某...