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PCBA測(cè)試方法特點(diǎn)集錦

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2025-04-24

一、裸板測(cè)試

考慮到測(cè)試條件和日漸復(fù)雜的基片互聯(lián)的測(cè)試需要,特別是測(cè)試過程涉及基片的電性能評(píng)估時(shí),人們會(huì)遇到許多問題。為使生產(chǎn)商在充分保證基片互聯(lián)電性能的前提下降低生產(chǎn)成本,用戶將不得不用100%網(wǎng)表定義測(cè)試數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)的兼容性也是目前遇到的問題之一,人們期望通過制定工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)在可預(yù)知的未來(lái)解決這些問題。過去,這方面的工作沒有做得盡善盡美,例如:工業(yè)界向電路板生產(chǎn)商提供Gerber機(jī)器碼,這種格式用于驅(qū)動(dòng)光繪機(jī)及生成定義生產(chǎn)電路板的光圖的光罩工具,它可以是單面、雙面或多面光圖。


二、在線測(cè)試(ICT,In-Circuit Test)

通過對(duì)在線元器件(制成板上的元器件)的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手段。它主要檢查在線的單個(gè)元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開、短路情況,具有操作簡(jiǎn)單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)。它通過直接對(duì)在線器件電氣性能的測(cè)試來(lái)發(fā)現(xiàn)制造工藝的缺陷和元器件的不良。元件類可檢查出元件值的超差、失效或損壞,Memory類的程序錯(cuò)誤等。對(duì)工藝類可發(fā)現(xiàn)如焊錫短路、元件插錯(cuò)、插反、漏裝、管腳翹起、虛焊、斷線等故障。測(cè)試的故障直接定位在具體的元件、器件管腳、網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)上,故障定位準(zhǔn)確。對(duì)故障的維修不需較多專業(yè)知識(shí)。采用程序控制的自動(dòng)化測(cè)試,操作簡(jiǎn)單。

三、自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)(AOI)和自動(dòng)X射線檢測(cè)以及邊界掃描

它們是近年發(fā)展起來(lái)的一些新型測(cè)試技術(shù),由于其技術(shù)不成熟,設(shè)備價(jià)格昂貴。在市場(chǎng)上還沒達(dá)到普及。

四、功能測(cè)試

給一個(gè)功能模塊一個(gè)輸入信號(hào)而得到相應(yīng)的輸出信號(hào),通過判斷其輸出信號(hào)是否正確來(lái)達(dá)到判斷該功能模塊是否有缺陷。電子產(chǎn)品功能測(cè)試有著其盛衰的歷史,60年代后期它是第一種自動(dòng)化測(cè)試方法,隨著70年代后期在線測(cè)試技術(shù)的出現(xiàn),功能測(cè)試似乎注定要讓位于編程與判斷日趨簡(jiǎn)易快速的在線測(cè)試。然而如今,潮流又變了。在線測(cè)試目前有一個(gè)問題越來(lái)越嚴(yán)重,即探測(cè)方式。據(jù)美國(guó)NEMI(國(guó)家電子制造組織)分析,到2004年底可探測(cè)到的節(jié)點(diǎn)基本上將為零,如果無(wú)法進(jìn)行探測(cè),那么在線測(cè)試幾乎就沒有用武之地。

功能測(cè)試正日益更多地用于生產(chǎn)線后工序中,甚至也用于進(jìn)行工藝中段的測(cè)試,但是其體系和實(shí)施方法與以前的測(cè)試幾乎已完全不同。如今的測(cè)試系統(tǒng)在多數(shù)情況下速度更快,結(jié)構(gòu)也更加緊湊,功能測(cè)試對(duì)于驗(yàn)證產(chǎn)品的總體功能性、維護(hù)校準(zhǔn)信息、向ISO9000程序提供數(shù)據(jù)以及保證高風(fēng)險(xiǎn)產(chǎn)品,如醫(yī)療設(shè)備的質(zhì)量等都是不可缺少的。

五、自動(dòng)測(cè)試和手動(dòng)測(cè)試

隨著每條生產(chǎn)線的產(chǎn)量和速度增加(實(shí)現(xiàn)規(guī)模經(jīng)濟(jì)的一個(gè)主要方法是提高每個(gè)測(cè)試設(shè)備的生產(chǎn)率),應(yīng)該要考慮能否使測(cè)試過程自動(dòng)化。自動(dòng)化功能測(cè)試實(shí)際上省去了裝載/卸載的時(shí)間,并不需要再增加其它測(cè)試系統(tǒng),在考慮提高產(chǎn)量的時(shí)候通常不會(huì)顧及輸運(yùn)設(shè)備增加的成本。測(cè)試自動(dòng)化的缺點(diǎn)包括有一個(gè)初始硬件投資、與生產(chǎn)線整合的時(shí)間、測(cè)試系統(tǒng)能否與生產(chǎn)線速度保持同步以及如果設(shè)備出故障而會(huì)給生產(chǎn)帶來(lái)的問題等等。

離線式測(cè)試儀不會(huì)直接影響裝配線,如果測(cè)試儀出現(xiàn)故障,可以把產(chǎn)品從生產(chǎn)線上拿出放在一邊繼續(xù)生產(chǎn),這樣生產(chǎn)線不會(huì)受影響,不過處理時(shí)間和人工也是個(gè)問題。人工測(cè)試通常要用若干電纜和連接器連接待測(cè)產(chǎn)品(UUT),這些電纜與針床夾具上的探針相比較,其使用壽命一般較低,因此應(yīng)將它納入維護(hù)計(jì)劃中,這可以降低間發(fā)性故障。


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